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應(yīng)用案例
PL熒光光譜測量應(yīng)用案例
自動晶片激光打標(biāo)機(jī)應(yīng)用案例
晶片厚度及翹曲度測量設(shè)備應(yīng)用案例
晶片膜厚自動測量及分類機(jī)應(yīng)用案例
產(chǎn)品介紹
PL譜掃描成像儀
自動晶片激光打標(biāo)機(jī)
晶片厚度及翹曲度測量設(shè)備
晶片膜厚自動測量及分類機(jī)
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應(yīng)用案例
PL譜掃描成像儀
藍(lán)綠片配置 ; 紅黃片、近紅外激光器及探測器配置 ;第三代半導(dǎo)體(紫外及HEMT器件)配置; 中紅外PL測量(FTIR)解決方案; 靈活的光譜儀配置方案(光纖光譜儀/可變光柵光譜儀); 微區(qū)PL(顯微熒光);低溫PL
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